讓高生產率的稱量工作變得簡單:

梅特勒XS 分析天平致力于獲得高生產率。 XS 天平的諸多優(yōu)勢關注于一個目標：使您更加簡單、安全地工作，從而實現(xiàn)更高的效率。

梅特勒XS 分析天平性能特點:

●采用分離的稱量單元和顯示控制單元，避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
●優(yōu)化天平適應性的稱量參數(shù)設置，滿足不同稱量環(huán)境要求
●*可拆卸、清洗的內部和外部玻璃防風罩設計，實現(xiàn)天平的快速清潔
●豐富的內置稱量應用程序：基礎稱量、統(tǒng)計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、動態(tài)稱量
●GWPExcellence^TM一體化安全功能，確保天平始終正確工作

觸摸屏（TouchScreen）：背亮式觸摸屏是天平操作更加快速簡便。中文界面和圖符顯示的用戶操作指南清晰易懂，幫助您有效節(jié)省操作時間。

網格秤盤（SmartGird）：有效降低稱量室中氣流對稱量的影響，從而縮短穩(wěn)定時間。稱量過程中如果出現(xiàn)差錯，樣品會直接散落在網格秤盤（SmartGird）下的金屬底盤上，因而不會影響稱量結果，且不浪費您的樣品。

技術參數(shù):

DR=變量程；DU=雙量程；sd=標準偏差